布魯克Bruker 科研級手持式XRF分析儀 - Tracer 5g
X射線熒光光譜儀(XRF)是一種通過測量樣品受X射線激發后產生的特征熒光來快速無損分析元素成分的儀器，廣泛應用于材料檢測、環境監測、礦產勘探、工業質量控制及考古研究等領域
使用布魯克BRUKER全反射X射線光譜儀，能夠檢測大米中砷元素的含量
Bruker Q2 ION 光電全譜直讀光譜儀：中小企業金屬分析專家
布魯克BRUKER 移動式微區X射線熒光光譜儀CRONO，幫助研究人員揭開19世紀水彩復制品的色彩之謎
布魯克手持式X射線熒光光譜儀S1 TITAN，助力澳門文物建筑修復
電話：86-021-37018108
傳真：86-021-57656381
郵箱：info@boyuesh.com
地址：上海市松江區莘磚公路518號松江高科技園區28幢301室
